XHBX1501 トランスフォーマー巻き込み変形テストは,高度な利用周波数応答分析 (FRA)トランスフォーマー内部の巻き込み状態を正確に評価する技術この装置は,変形の重さを決定するために,巻き込み応答の変化を定量化します.トランスフォーマーが整備や修理を必要としているかを正確に評価することができます.トランスフォーマー全体のライフサイクル診断戦略をアンカーする FRAの指紋を確立します.
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| スウィープ周波数範囲 | 100Hz 2MHz |
| 幅測定範囲 | -100dB 20dB |
| スキャン周波数精度 | 0.005% |
| シグナル出力阻力 | 50Ω |
| シグナル入力阻力 | 1MΩ |
| シグナル出力幅 | ±10Vピーク (ソフトウェアで調整可能) |
| A/D サンプリング | 双チャンネル16ビット高速 |
| 試験速度 | 1~2分 各段階巻き込み |
| コミュニケーション | USB + 選択可能なBluetooth |
| サイズ | 310 × 400 × 330 mm (アルミケース) |
| 準拠基準 | DL/T911-2004 |